Ученые предложили новый экспресс-метод исследования рака мозга
Группа исследователей из МГУ, институтов РАН и Минздрава разработала новую методику изучения образцов опухолей мозга при помощи высокоразрешающего метода масс-спектрометрии вторичных ионов. По мнению ученых, этот метод позволит проводить быструю диагностику тканей опухоли. Результаты исследования опубликованы в журнале Mol Cell Proteomic.
Глиобластома считается одним из наиболее агрессивных видов онкологических заболеваний. Ее ткани неоднородны и имеют сложное строение, а клетки имеют разный набор мутаций. Для подбора эффективного лечения врачам необходимо иметь информацию о строении опухолевой ткани.
Отмечается, что сотрудники химического факультета МГУ, ИБХ РАН, ФИЦ ХФ РАН, Центра нейрохирургии им. ак. Н.Н. Бурденко и других научных организаций при помощи метода масс-спектрометрии вторичных ионов (ToF-SIMS), что является одной из самых чувствительных методик анализа поверхности, исследовали срезы глиобластом 57 пациентов. После облучения вторичные ионы образца подверглись исследованию.
"Мы продвигаем идею использования ToF-SIMS в клинической диагностике опухолевых (и не только) заболеваний. Но помимо этого полученные данные о составе могут быть использованы и для выработки критериев клинической диагностики опухолевых заболеваний другими методами исследований", — рассказал один из авторов работы, старший научный сотрудник ФИЦ ХФ РАН, научный сотрудник химического факультета МГУ Александр Гулин.
Отмечается, что комбинации вторичных ионов уникальны для разных типов опухолевой и нормальной ткани, благодаря этому их можно разделять. Полученные данные отражают важные биологические процессы, такие как изменения в тканях под действием лекарств. Анализ ToF-SIMS занимает около 10 минут.
Ранее сообщили о том, что ученые создали методику, которая может облегчить жизнь диабетикам.